1. Thin Film analysis by X-Ray scattering
پدیدآورنده : / Mario Birkholz by with Contributions by paul F. Fewster, Chritoph Genzel
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : Thin films,X - ray spectroscopy
رده :
QC176
.
83
.
B57
2006